CE-VM02-52MD2 单路直流电压隔离传感器/变送器

应用脉动直流电压信号的检测；

产品概述：

　　此类产品是运用光耦隔离、调制隔离等多种原理设计，采用输出与输入隔离（二隔离）或者输入、输出、电源均相互隔离（三隔离）方式制作，具有PCB、导轨、螺钉三种安装方式，主要用于直流电压信号的实时监测和监控。

主要特性：
●检测范围：1mA~400A
●输出纹波：10mV(0.2级)，15mV(0.5级)
●温漂特性：≤200ppm/℃(CE-VZ01，CE-VZ03)，注：响应时间最小为15mS,
　　　　　　≤400mS(CE-VM01/02，CE-VZ01A) 
●响应时间：≤300mS(CE-IZ01，CE-IZ02)响应时间最小为15mS
●静态功耗：Vz,Vd,Vg,Iz输出：400mW(VZ01/VB01/VM01/VZ01A),200mW(VZ02/VB02/VM02)
　　　　　　Iy输出：500mW(VZ01/VB01/VM01/VZ01A),300mW(VZ02/VB02/VM02)
●负载能力：负载≥2KΩ(电压输出)
　　　　　　负载≤250Ω(电流输出)
●工作环境：温度:-10~60℃；湿度:≤95%(不结露)

产品特性选择表：CE-VM02-52MD2

型号列举：

CE-VM02-32MS1       CE-VM02-33MS1       CE-VM02-34MS1        CE-VM02-42MS1

CE-VM02-43MS1       CE-VM02-44MS1       CE-VM02-52MS1        CE-VM02-53MS1

CE-VM02-54MS1       CE-VM02-62MS1       CE-VM02-63MS1        CE-VM02-64MS1

CE-VM02-82MS1       CE-VM02-83MS1       CE-VM02-84MS1        CE-VM02-F2MS1

CE-VM02-F3MS1       CE-VM02-F4MS1       CE-VM02-T2MS1        CE-VM02-T3MS1

CE-VM02-T4MS1       CE-VM02-32MH2       CE-VM02-33MH2       CE-VM02-34MH2

CE-VM02-42MH2       CE-VM02-43MH2       CE-VM02-44MH2       CE-VM02-52MH2

CE-VM02-53MH2       CE-VM02-54MH2       CE-VM02-62MH2       CE-VM02-63MH2

CE-VM02-64MH2       CE-VM02-82MH2       CE-VM02-83MH2       CE-VM02-84MH2

CE-VM02-F2MH2       CE-VM02-F3MH2       CE-VM02-F4MH2       CE-VM02-T2MH2

CE-VM02-T3MH2       CE-VM02-T4MH2       CE-VM02-32MD2       CE-VM02-33MD2

CE-VM02-34MD2       CE-VM02-38MD2       CE-VM02-39MD2       CE-VM02-42MD2

CE-VM02-43MD2       CE-VM02-44MD2       CE-VM02-48MD2       CE-VM02-49MD2

CE-VM02-52MD2       CE-VM02-53MD2       CE-VM02-54MD2       CE-VM02-58MD2

CE-VM02-59MD2       CE-VM02-62MD2       CE-VM02-63MD2       CE-VM02-64MD2

CE-VM02-68MD2       CE-VM02-69MD2       CE-VM02-82MD2       CE-VM02-83MD2

CE-VM02-84MD2       CE-VM02-88MD2       CE-VM02-89MD2       CE-VM02-F2MD2

CE-VM02-F3MD2       CE-VM02-F4MD2       CE-VM02-F8MD2       CE-VM02-F9MD2

CE-VM02-T2MD2       CE-VM02-T3MD2       CE-VM02-T3MD2       CE-VM02-T4MD2

CE-VM02-T8MD2       CE-VM02-T9MD2       CE-VM02-37MS3       CE-VM02-38MS3

CE-VM02-39MS3       CE-VM02-47MS3        CE-VM02-48MS3       CE-VM02-49MS3

CE-VM02-57MS3       CE-VM02-58MS3        CE-VM02-59MS3       CE-VM02-67MS3

CE-VM02-68MS3       CE-VM02-69MS3        CE-VM02-87MS3       CE-VM02-88MS3

CE-VM02-89MS3       CE-VM02-F7MS3        CE-VM02-F8MS3       CE-VM02-F9MS3

CE-VM02-T7MS3       CE-VM02-T8MS3        CE-VM02-T9MS3       CE-VM02-32MH4

CE-VM02-34MH4       CE-VM02-82MH4        CE-VM02-84MH4

其他产品知识：

几种可靠性试验方法介绍：

电子产品的可靠性试验方法有多种，下面介绍几种常用的方法。

　　第一种方法是“试验——问题记录——再试验”模式。

　　该方法就是把初步研制的产品，通过试验发现问题时，不是立即进行改进，而是把问题记录下来，待在一个试验阶段结束以及下一个阶段开始之前，根据各种失效模式的失效机理，集中地进行改进，然后再进行试验。采用这种试验法，产品可靠性将有较大的跃进。这种试验法，比较适用于一批试验机中，出现几个问题，其中一种问题是占主要地位而其余问题是次要的情况。

　　第二种方法是“试验——改进——再试验”模式。

　　该方法就是把初步研制的产品，通过试验，暴露产品的薄弱环节，分析产品的失效模式和失效机理，找出问题就立即改进，然后再试验证实所解决的问题，使产品的可靠性得到增长。这种方法在电子产品的研制阶段，通过系统试验，暴露出产品薄弱环节之后，根据具体情况，立即进行必要的改进是能够使产品的可靠性有大幅度的增长，这种方法比较适用于试验中只出现一种比较普遍和严重问题的情况，针对性较强。

　　第三种方法是“含延缓改进的试验——改进——再试验”模式。

　　该方法是将方法一和方法二结合起来，通过试验发现了产品的问题，有些改进在试验中了产品的问题，有些改进在试验中立即着手进行，有些延缓到试验结束后再作改进。在试验中，对能及时改进的问题，立即采取措施改进产品，提高可靠性，在试验阶段结束后，把延缓的问题至下次试验开始前进行改进，然后再进行试验，使产品的可靠性得到较大的增长。这种方法比较适合于试验中出现几种问题，并且一些问题能短期容易改进的，另一些问题却需要相当一段时间才能改进的综合情况。对于以上所述的三种方法，电子产品在研制阶段中，经过系统的试验，要根据暴露出的问题作具体分析，灵活应用。可靠性试验中常用的三种方法往往是周而复始地循环，并且一个循环比一个循环产品的可靠性水平向上增长，另外可靠性试验除通过系统试验外，还应根据具体情况通过气候环境试验、机械环境试验和人为正常使用等各方面的试验来暴露产品生产的薄弱环节，进行综合的科学分析，做相应的改进，使得电子产品在设计研制阶段对其固有可靠性有进一步的提高。（资料转载于互联网，仅作阅读参考，不做它用！）