CE-VB02-82MD2 单路直流电压隔离传感器/变送器

应用于双向直流电压信号的检测；

产品概述

　　此类产品是运用光耦隔离、调制隔离等多种原理设计，采用输出与输入隔离（二隔离）或者输入、输出、电源均相互隔离（三隔离）方式制作，具有PCB、导轨、螺钉三种安装方式，主要用于直流电压信号的实时监测和监控。

产品特性选择表：CE-VB02-82MD2

选型注意事项：
注①…选用该输出类型时，负载电阻RL应≤250Ω，如250Ω＜RL≤500Ω时，请用户在订货时注明。
注②…VB01电流输出时，采用零点平移输出方式，10±10mA或12±8mA。
注③…D2为高可靠、高稳定、高抗干扰、超薄型。
型号列举：

CE-VB02-32MS1       CE-VB02-33MS1       CE-VB02-34MS1        CE-VB02-42MS1

CE-VB02-43MS1       CE-VB02-44MS1       CE-VB02-52MS1        CE-VB02-53MS1

CE-VB02-54MS1       CE-VB02-62MS1       CE-VB02-63MS1        CE-VB02-64MS1

CE-VB02-82MS1       CE-VB02-83MS1       CE-VB02-84MS1        CE-VB02-F2MS1

CE-VB02-F3MS1       CE-VB02-F4MS1       CE-VB02-T2MS1        CE-VB02-T3MS1

CE-VB02-T4MS1       CE-VB02-32MH2       CE-VB02-33MH2       CE-VB02-34MH2

CE-VB02-42MH2       CE-VB02-43MH2       CE-VB02-44MH2       CE-VB02-52MH2

CE-VB02-53MH2       CE-VB02-54MH2       CE-VB02-62MH2       CE-VB02-63MH2

CE-VB02-64MH2       CE-VB02-82MH2       CE-VB02-83MH2       CE-VB02-84MH2

CE-VB02-F2MH2       CE-VB02-F3MH2       CE-VB02-F4MH2       CE-VB02-T2MH2

CE-VB02-T3MH2       CE-VB02-T4MH2       CE-VB02-32MD2       CE-VB02-33MD2

CE-VB02-34MD2       CE-VB02-38MD2       CE-VB02-39MD2       CE-VB02-42MD2

CE-VB02-43MD2       CE-VB02-44MD2       CE-VB02-48MD2       CE-VB02-49MD2

CE-VB02-52MD2       CE-VB02-53MD2       CE-VB02-54MD2       CE-VB02-58MD2

CE-VB02-59MD2       CE-VB02-62MD2       CE-VB02-63MD2       CE-VB02-64MD2

CE-VB02-68MD2       CE-VB02-69MD2       CE-VB02-82MD2       CE-VB02-83MD2

CE-VB02-84MD2       CE-VB02-88MD2       CE-VB02-89MD2       CE-VB02-F2MD2

CE-VB02-F3MD2       CE-VB02-F4MD2       CE-VB02-F8MD2       CE-VB02-F9MD2

CE-VB02-T2MD2       CE-VB02-T3MD2       CE-VB02-T3MD2       CE-VB02-T4MD2

CE-VB02-T8MD2       CE-VB02-T9MD2       CE-VB02-37MS3       CE-VB02-38MS3

CE-VB02-39MS3       CE-VB02-47MS3        CE-VB02-48MS3       CE-VB02-49MS3

CE-VB02-57MS3       CE-VB02-58MS3        CE-VB02-59MS3       CE-VB02-67MS3

CE-VB02-68MS3       CE-VB02-69MS3        CE-VB02-87MS3       CE-VB02-88MS3

CE-VB02-89MS3       CE-VB02-F7MS3        CE-VB02-F8MS3       CE-VB02-F9MS3

CE-VB02-T7MS3       CE-VB02-T8MS3        CE-VB02-T9MS3       CE-VB02-32MH4

CE-VB02-34MH4       CE-VB02-82MH4        CE-VB02-84MH4

其他产品知识：

影响涂层测厚仪准备度的因素：

a) 基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b) 基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　c) 基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　d) 边缘效应

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e) 曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f) 试件的变形

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　g) 表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　g) 磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　h) 附着物质

　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

　　i) 测头压力

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　j) 测头的取向

　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。（资料转载于互联网，仅作阅读参考，不做它用！）